HAST 高溫高壓老化試驗箱
環(huán)境模擬試驗箱
用于評估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應力壽命老化試驗。
HAST 高溫高壓老化試驗箱
HAST高溫高壓老化試驗箱?是一種用于加速老化測試的設備，主要用于模擬高溫、高濕和高壓環(huán)境，以評估電子元器件、半導體、微電子芯片等產(chǎn)品的可靠性和耐久性。
適合國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、制藥等行業(yè)相關之產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。
廣泛應用于線路板,多層線路板,IC半導體,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。
產(chǎn)品特點：
采用進口耐高溫電磁閥雙路結構，在最大程度上降低了使用故障率。
獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。
門鎖省力結構，解決第一代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。
試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計(試驗桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.
超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉1000小時以上.
水位保護，透過試驗室內(nèi)水位Sensor檢知保護.
tank耐壓設計，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試4kg.
二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置.
安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .
偏壓測試端子耐壓可達3000V(選配）
USB導出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.
基本參數(shù)：
| 內(nèi)箱尺寸 | （∮260 mm×L400 mm）*2 圓型試驗箱 |
外箱尺寸（約） | 650×1580×1600 mm ( W * D * H )立式 |
測試方式 | 105.0~133.3℃/100%RH |
測試溫度 | 110~140℃/85%RH |
溫度范圍 | 118.0~150.0℃/65%RH |
設定溫度 | +100 ℃ ～ +140 ℃( 蒸氣溫度 ) |
濕度范圍 | 65~100 %RH 蒸氣濕度 |
濕度控制穩(wěn)定度 | ±3%RH |
使用壓力 | 1.2~2.89kg(含1atm) |
時間范圍 | 0 Hr ～ 999 H |
加壓時間 | 0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2 約 35 分 |
溫度均勻度 | ±2℃ |
壓力波動均勻度 | ±0.1Kg |
| 濕度分布均勻度 | ±5%RH |
溫度顯示精度 | 0.1℃ |
濕度顯示精度 | 100%RH |
壓力顯示精度 | 0.1 Kg / cm2 |
| 電源 | 380VAC±10% 50/60Hz |
適用標準：
GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱
JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）
JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗?jié)裥詽B透）
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
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